Xavier MATEOS FERRÉ

-

Contactless Optical Metrology Platform: Interferometric Fringes for Refractive Index and Multi-Line Projection for 3D Scanning

Aquest projecte presenta una plataforma de metrologia òptica sense contacte que integra dos sistemes complementaris. El primer adapta un interferòmetre de Michelson per mesurar l'índex de refracció de sòlids transparents comptant les franges d'interferència generades durant la rotació de la mostra, validades en vidre, PMMA i un cristall birefringent. El segon desenvolupa un escàner 3D de baix cost que combina llum estructurada (desplaçament de fase i perfilometria de transformada de Fourier) amb un enfocament de forma a partir del desenfocament basat en patrons de franges binaris projectats. El sistema té com a objectiu la reconstrucció del cos humà per a l'estimació de la talla de la roba. Ambdós sistemes utilitzen maquinari de qualitat de consum i demostren que es poden aconseguir mesures òptiques útils sense equips especialitzats.

05-FEB-2026

Fotònica i òptica experimental (interferometria)

Tenir interès per la fotònica, òptica, visió artificial i programació